WayneKerrElectronics磁導率測試應用方案

1.磁材料樣品制作

對磁性材料進行磁導率測試通常不會對成型不規(guī)則產品進行測試，因為導致其磁導率測試結果的不確定因素過多(如GAP深度、固定方式等)，所以都會將磁性材料塑形為標準的磁環(huán)，以利于進行測試計算。

2.測試相對磁導率方法

相對磁導率的測試，可以通過先測試空氣線圈的電感和通過磁環(huán)的繞線交流電阻(不放入磁環(huán))，然后將磁環(huán)放在同一個繞線線圈中再次測試電感和通過磁環(huán)的繞線交流電阻來實現，可以得出一個測試需要通過兩次獨立的測試來完成。通過上述的方法，用戶可以先量測一個頻率范圍的不帶磁芯的空氣線圈的電感和交流電源，并將其存儲在一個檔中。這些

測試結果將在后續(xù)的測試帶有磁芯的線圈中來使用，直至用戶更換了不同的空氣線圈，具體的計算公式可以參考附錄的計算公式。

3.磁導率測試夾具

測試頻密范圍:20Hz~120MHz -基本測試精度:0.05%

無需在磁環(huán)上纏繞漆包線或絲包線

測試尺寸涵蓋業(yè)內最大標準

25(外徑)*15(內徑)*10(高度)

取樣放樣方便快捷

被測物尺寸規(guī)格范圍

4.1J1030夾具使用，配合1J1011使用

1、1J1030放置在1J1011上，裝載樣品                  2、整套測試系統

5.1J1030配件一覽表

部件名稱                      

6.WK6500B相對磁導率測試軟件

WayneKerr6500B精密阻抗分析儀，軟件選配有材料測試軟件(訂購代碼/K)，這個軟件只能安裝在精密阻抗分析儀上，不能安裝在6500P的高頻LCR表上。通過這個軟件可以更容易的計算出相對磁導率的相關參數，軟件接口如下:

磁導率測試參數:

u*r 相對磁導率復數值

u'r 相對磁導率實部

u'r 相對磁導率虛部

tan□損耗因數

損耗因數

磁導率測試參數：

u*r  相對磁導率復數值

u'r  相對磁導率實部

u'r  相對磁導率虛部

tan□損耗因數

D   損耗因數

軟件設置

NumberofturnsN’:繞在磁環(huán)上的圓數，在配合1030使用時設置成1

Average magnetic pathlength'磁環(huán)的平均磁路徑長度

Cross-sectional area oftoroidA:磁環(huán)的截面積

Measure Lw/Rw referencedate:建立空氣線圈參考檔

7.測試接口

儀表模式                               分析模式